EMC測試（電磁兼容測試），是評(píng)定電子產(chǎn)(chǎn)品質(zhì)(zhì)量最重要的指標(biāo)之一，指的是對電子產(chǎn)(chǎn)品在電磁場(chǎng)方面干擾大?。‥MI）和抗干擾能力（EMS）的綜合評(píng)定。EMC電磁兼容測試的目的是保證產(chǎn)(chǎn)品不能對所處的電磁環(huán)(huán)境造成影響，同時(shí)(shí)在特定的電磁環(huán)(huán)境中能夠正?？煽康墓ぷ?。

電磁干擾EMI測試項(xiàng)目有：輻射發(fā)(fā)射測試、傳導(dǎo)發(fā)(fā)射測試、騷擾功率測試、電流諧波測試、電源諧波測試、閃爍測試。電磁抗干擾EMS測試項(xiàng)目有：靜電放電抗擾度、射頻電磁場(chǎng)抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、沖擊（雷擊和浪涌）抗擾度、射頻場(chǎng)感應(yīng)傳導(dǎo)抗擾度、工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)、電壓跌落短時(shí)(shí)中斷和電壓漸降抗擾度。接下來(lái)，重點(diǎn)(diǎn)要講解的是浪涌沖擊測試。

浪涌沖擊測試適用于電氣和電子設(shè)備在規(guī)定的工作狀態(tài)(tài)下工作時(shí)(shí)，對由開(kāi)關(guān)(guān)或雷電作用所產(chǎn)(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌（沖擊）電壓的反應(yīng)。該標(biāo)準(zhǔn)不對絕緣物耐高壓的能力進(jìn)(jìn)行試驗(yàn)；該標(biāo)準(zhǔn)不考慮直擊雷。

浪涌沖擊測試內(nèi)容：對電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號(hào)和控制端口在受到浪涌（沖擊）干擾時(shí)(shí)的性能進(jìn)(jìn)行評(píng)定。
浪涌沖擊測試目的：在遭受到來(lái)自電力線(xiàn)和互連線(xiàn)上高能量浪涌（沖擊）騷擾時(shí)(shí)產(chǎn)(chǎn)品的性能。
浪涌沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61000-4-5、GB/T 17626.5、IEC 61643-1、ITU-TK.21、GB/T 3482 、GB/T 16927.1。
試驗(yàn)發(fā)(fā)生器：
a）信號(hào)發(fā)(fā)生器的特性應(yīng)盡可能地模擬開(kāi)關(guān)(guān)瞬態(tài)(tài)和雷擊瞬態(tài)(tài)現(xiàn)象；
b）如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線(xiàn)路中，例如在電源網(wǎng)(wǎng)絡(luò)(luò )中（直接耦合），那么信號(hào)發(fā)(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個(gè)(gè)低阻抗源；
c）如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線(xiàn)路中（間接耦合），那么信號(hào)發(fā)(fā)生器能夠模擬一個(gè)(gè)高阻抗源。對于不同場(chǎng)合使用的產(chǎn)(chǎn)品及產(chǎn)(chǎn)品的不同端口，由于相應(yīng)的浪涌（沖擊）瞬態(tài)(tài)波形，各不相同，因此對應(yīng)的模擬信號(hào)發(fā)(fā)生器的參數(shù)也各不相同。

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